絕緣電阻率測定儀

LST-121表面電阻率測試儀

壹、  絕緣電阻率測定儀符合標(biāo)準(zhǔn)及適用范圍：

    符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測量電極（夾具）可以測量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。本儀器除能測電阻外，還能直接測量微弱電流。

二、表面電阻率測試儀技術(shù)指標(biāo)

三、絕緣電阻率測定儀工作原理

    根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也會有些變化，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。
    本臺電阻率測試儀是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以，即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結(jié)果影響不大，其測量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零，而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

四、表面電阻率測試儀典型應(yīng)用

1、測量絕緣材料電阻(率)
2、測量防靜電材料的電阻及電阻率
3、測量計算機(jī)房用活動地板的系統(tǒng)電阻值
4、測量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值
5、光電二極管暗電流測量
6、物理,光學(xué)和材料研究

電阻率測試儀標(biāo)準(zhǔn)配置：

表面電阻率測試儀使用注意事項     

★高阻測量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行，否則有可能造成儀器*損壞或電人。 
7.1 應(yīng)在“Rx"兩端開路時調(diào)零（主機(jī)開機(jī)）
如接在電阻箱或被測量物體上時調(diào)零后測量會產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測試過程中不需再調(diào)零，但改變測量電壓后可能要重新調(diào)零。 
7.2 禁止將“Rx"兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊
7.3 在測試過程中不要隨意改動測量電壓， 
★隨意改動測量電壓可能因電壓的過高或電流過大損壞被測試器件或測試儀器，而且有的材料是非線性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時由于電流不是線性變化，所以測量的電阻也會變化。 
7.4 測量時從低次檔逐漸拔往高次檔 
★每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測電阻值。若顯示“1"時，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器(機(jī)內(nèi)有過電流保護(hù)電路)。除104 Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過量程應(yīng)換低檔! 
7.5 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會有一定變化而引起數(shù)字變化 
★由于本儀器的分辯率很高，因而會引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問題，而是被測量對象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。 
7.6 接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分 
★本儀表有二連根線:高壓線(紅)和微電流測試線。在使用時要注意高壓線，開機(jī)后人不能觸及高壓線，。 
7.7 測試過程中不能觸摸微電流測試端 
★微電流測試端zui怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開機(jī)后和測試過程中不能與微電流測試端接觸，以免損壞儀表。 
7.8 在測量高阻時，應(yīng)采用屏蔽盒將被測物體屏蔽. 
★在測量大于1010 Ω以上時，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。 
7.9 每次測量完時應(yīng)將量程開關(guān)撥回“104 "檔再進(jìn)行下次測試